El sensor de frente de onda de infrarrojo cercano con un impresionante rango dinámico de hasta 270 μm. Ofrece una excepcional resistencia a las vibraciones y estabilidad, lo que permite realizar mediciones de precisión a nivel nanométrico sin necesidad de aislamiento de vibraciones. Este instrumento es adecuado para medir la distribución de la red interna de materiales, así como mediciones de frente de onda para metasuperficies e hiperlentes. Siempre nos adheriremos al principio de "la calidad primero, el cliente primero" e invitamos cordialmente a los clientes a que nos visiten para realizar consultas.
nombre del producto |
Sensor de frente de onda de infrarrojo cercano |
Rango de onda |
900nm~1200nm |
Tamaño objetivo |
13,3 mm × 13,3 mm |
Resolucion espacial |
26 μm |
Resolución de muestreo |
512×512(262144píxeles) |
Resolución de fase |
<2nmRMS |
Precisión absoluta |
15 nmRMS |
Gama dinámica |
270 μm (256 min) |
Tasa de muestreo |
45 fps |
Velocidad de procesamiento en tiempo real |
10 Hz (resolución completa) |
Tipo de interfaz |
USB3.0 |
Dimensión |
70 mm × 46,5 mm × 68,5 mm |
Peso |
alrededor de 240 g |
◆Gran rango dinámico de hasta 270μm
◆ Resolución de fase alta de 2 nm RMS
◆Resolución ultraalta de 512×512 (262144) puntos de fase
◆Autointerferencia de luz de un solo canal, no se requiere luz de referencia
◆Banda de amplio espectro de 900 nm ~ 1200 nm
◆Rendimiento antivibración extremadamente fuerte, sin necesidad de aislamiento óptico de vibración
◆Al igual que las imágenes, construcción de ruta óptica fácil y rápida
◆ Admite haces colimados y grandes haces convergentes NA
Este sensor de frente de onda de infrarrojo cercano BOJIONG se utiliza en la medición de aberración del sistema óptico, calibración del sistema óptico, medición de la distribución de la red interna del material, hipersuperficie, medición del frente de onda de hiperlente.
Ejemplo de medición de aberración de un sistema óptico. |
Medición de muestra de la distribución de la red dentro de un material. |
Ejemplos de medidas de calibración de sistemas ópticos |
Ejemplo de medición del frente de onda de metasuperficie |
Ejemplo de medición del frente de onda de hiperlente |
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Sensor de frente de onda de infrarrojo cercano BOJIONG desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang de Singapur, con tecnología patentada nacional, combina difracción e interferencia para lograr una interferencia de corte transversal común de cuatro ondas, con una sensibilidad de detección superior y anti- Rendimiento de vibración y puede realizar interferometría dinámica en tiempo real y de alta velocidad sin aislamiento de vibración. La medición en tiempo real muestra una velocidad de cuadros de más de 10 cuadros. Al mismo tiempo, el sensor FIS4 tiene una resolución de fase ultraalta de 512 × 512 (260.000 puntos de fase), la banda de medición cubre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilidad de medición alcanza los 2 nm y la repetibilidad de la medición es mejor que 1/1000 λ ( RMS). Se puede utilizar para análisis de la calidad del rayo láser, detección del campo de flujo de plasma, medición en tiempo real de la distribución del campo de flujo de alta velocidad, evaluación de la calidad de la imagen del sistema óptico, medición del perfil microscópico e imágenes de fase cuantitativa de células biológicas.
FIS4 Parámetros técnicos de cada serie de productos. |
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Producto |
FIS4-UV |
FIS4-HR |
RELOJ FIS4 |
FIS4-HS |
FIS4-Celda |
FIS4-NIR |
Rango de onda |
200~450nm |
400~1100nm |
400~1100nm |
400~1100nm |
400~1100nm |
900~1200nm |
Tamaño objetivo mm² |
13,3×13,3 |
7,07×7,07 |
13,3×13,3 |
10,24×10,24 |
7,07×7,07 |
13,3×13,3 |
Resolucion espacial |
26 μm |
23,6 µm |
26 μm |
24,4 μm |
23,6 µm |
26 μm |
Píxel de imagen |
- |
2048×2048 |
- |
- |
2048×2048 |
- |
Resolución de salida de fase |
512×512 (262144 píxeles) |
300×300(90000píxeles) |
512×512(262144píxeles) |
420×420(176400píxeles) |
300×300(90000píxeles) |
512×512(262144píxeles) |
Resolución de fase |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
Precisión absoluta |
10 nmRMS |
10 nmRMS |
15 nmRMS |
10 nmRMS |
10 nmRMS |
15 nmRMS |
Gama dinámica |
90 μm (256 minutos) |
110 μm (150 minutos) |
162 μm (256 minutos) |
132 μm (210 minutos) |
110 μm (150 minutos) |
270 μm (256 minutos) |
Tasa de muestreo |
32 fps |
24 fps |
45 fps |
107fps |
24 fps |
45 fps |
Velocidad de procesamiento en tiempo real |
10Hz (Resolución completa) |
10Hz (Resolución completa) |
10Hz (Resolución completa) |
10Hz (Resolución completa) Admite procesamiento por lotes retrasado |
10Hz (Resolución completa) |
10Hz (Resolución completa) |
Tipo de interfaz |
USB3.0 |
CORTAR |
USB3.0 |
CORTAR |
CORTAR |
USB3.0 |
Interfaz externa |
- |
- |
- |
- |
Puerto C |
- |
Tamaño mm² |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
peso |
aproximadamente 240 g |
alrededor de 120 g |
aproximadamente 240 g |
alrededor de 120 g |
alrededor de 120 g |
aproximadamente 240 g |
DIRECCIÓN
No. 578 Yingkou Road, distrito de Yangpu, Shanghai, China
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