FIS4Sensor de frente de onda de infrarrojo FIS4 900-1200 nm
ElBoJiong Sensor de frente de onda FIS4 NIR 900-1200 nm está específicamente diseñado para medición de precisión en la banda de longitud de onda de 900–1700 nm. Adopta una tecnología de interferometría de corte lateral de cuatro ondas profundamente optimizada y un módulo de detección mejorado por infrarrojos, logrando una resolución espacial ultra alta de 512 × 512 y una sensibilidad de fase de RMS de 2NM dentro del rango espectral de infrarrojo cercano. El sensor presenta un gran rango dinámico de ≥260 μm, lo que permite un análisis preciso de aberraciones fuertes y frentes de onda empinados al tiempo que suprime efectivamente la interferencia de moteos láser. Equipado con un recubrimiento antirreflectante de banda completa y una estructura antivibratoria de la ruta común, puede realizar mediciones estables y altamente repetibles sin aislamiento de vibración en escenarios como el procesamiento de láser, las pruebas de integración del sistema óptico y la metrología semiconductora, proporcionando un soporte de datos confiable para el diseño óptico infrarrojo y la fabricación.
BoJiongFIS4 Nir Sensor de frente de onda 900-1200 nm Introducción
ElBoJiong FIS4Sensor de frente de onda de infrarrojo FIS4 900-1200 nm Es la nueva generación de equipos de inspección óptica de alta precisión de nuestra compañía, con una excelente resistencia a la vibración y capacidades de medición del frente de onda en tiempo real. ElFIS4Sensor de frente de onda de infrarrojo FIS4 900-1200 nm al sistema de gestión de calidad ISO 9001 y está certificado por el Instituto de Metrología de China (NIM). Viene con una garantía de un año. ElSensor de frente de onda fis4 nir Es plug-and-play, fácil de operar y de bajo mantenimiento, mejorando efectivamente la eficiencia de inspección y la confiabilidad de los sistemas ópticos.
BoJiongSensor de frente de onda FIS4 NIR 900-1200 nm Parámetro (especificación)
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Fuente de luz |
Láser continuo, led láser pulsado; Lámpara halógena y otros ampliosFuentes de luz de espectro |
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Rango de longitud de onda |
900 ~ 1200nm |
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Tamaño objetivo |
13.3mm ×13.3mm |
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Resolución espacial |
26μm |
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Resolución de salida de fase |
512×512 |
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Precisión absoluta |
20NMRMS |
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Resolución de fase |
≤2nmrms |
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Rango dinámico |
≥260μm |
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Frecuencia de muestreo |
40FPS |
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Velocidad de procesamiento en tiempo real |
5Hz(A plena resolución) |
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Tipo de interfaz |
USB3.0 |
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Tamaño |
70mm ×46.5mm ×68.5mm |
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Peso |
Acerca de240g |
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Método de enfriamiento |
Ninguno |
BoJiongSensor de frente de onda FIS4 NIR 900-1200 nm Característica y aplicación
Desde 2006, el equipo del profesor Yang Yongying en la Universidad de Zhejiang ha lanzado con éxito el FIS4 de amplio espectro. Sensor de frente de onda de la serie Basado en el diseño de interferometría de ruta común y los algoritmos de reconstrucción de frente de onda en tiempo real después de 17 años de investigación y desarrollo dedicados. Este producto tiene las siguientes características sobresalientes:
· Fuerte libre de aislamiento contra la vibración y la vibración: la detección de frente de onda en tiempo real se puede lograr en entornos complejos sin la necesidad de una plataforma de aislamiento de vibración;
· Medición de alta sensibilidad: sensibilidad al frente de onda de hasta 2 nm RMS, lo que permite la captura precisa de pequeños cambios de fase;
· Ruta óptica única plug-and-play: diseño original de ruta óptica única sin luz de referencia, lo que permite el uso inmediato sobre la operación de encendido y conveniente;
· Compacto, liviano y portátil: solo el tamaño de un puño, facilitando la integración y el uso de campo.
ElFIS4Sensor de frente de onda de infrarrojo FIS4 900-1200 nmestá diseñado para metrología óptica de alta gama en inspección industrial, investigación científica y aplicaciones de defensa. Con una alta resolución de 512 × 512 (262,144) puntos de fase, permiten mediciones de alta precisión en el frente de onda en el rango de 900–1200 nm y admiten visualización en 3D en tiempo real a una resolución completa a 10 cuadros por segundo. El Sensor de frente de onda fis4 nir Se puede utilizar para la medición de la aberración de sistemas ópticos, calibración del sistema óptico, medición de la distribución de materiales de la red interna, la medición del frente de onda de las metasurfaces y las metalensas, etc.
BoJiong Sensor de frente de onda FIS4 NIR 900-1200 nm Solicitud
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Ejemplo de medición de aberración en sistemas ópticos
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Ejemplo de medición de calibración del sistema óptico |
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Ejemplo de medición de marco de súper lente |
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BoJiong Sensor de frente de onda FIS4 NIR 900-1200 nm Detalles
El FIS4Sensor de frente de onda de infrarrojo FIS4 900-1200 nmUtiliza tecnología patentada de difracción de cuatro ondas codificada aleatoria, logrando la interferencia propia del frente de onda medido utilizando una sola ruta de luz. La interferencia ocurre en el plano de la imagen trasera. Esta tecnología reduce significativamente el requisito de coherencia de la fuente de luz, eliminando la necesidad de cambiadores de fase y habilita las mediciones de interferometría de alta precisión con sistemas de imágenes estándar. El producto ofrece una excelente resistencia a la vibración y una estabilidad de ultra alta estabilidad, permitiendo la medición de la rara de onda a nivel de nanómetro sin la necesidad de una plataforma de isolación. En comparación con los sensores tradicionales de Hartmann basados en matrices de microlenses, el sensor de front de onda de infrarrojo de FIS4 900-1200 nm sobresale en varios indicadores clave de rendimiento: resolución de punto de fase más alta, adaptabilidad de la banda operativa más amplia y un mayor rango dinámico. También ofrece un rendimiento de costo superior, proporcionando una solución confiable para una amplia gama de escenarios de inspección óptica de precisión.
Fig.1. Principio de imágenes de fase basado en interferencia de corte lateral de cuatro ondas usando rejilla híbrida codificada aleatoriamente (REHG)
Fig. 2. Reconstrucción del frente de onda cuadrada del interferograma de corte lateral de cuatro ondas
ElFIS4sensor de frente de onda se ha convertido en una herramienta poderosa y ampliamente utilizada en la investigación científica y la industria debido a sus ventajas, como la estructura compacta, la fuerte estabilidad, la alta resolución temporal y la buena compatibilidad con los sistemas de microscopía existentes. Inicialmente, este sensor se utilizó principalmente para tareas de detección en talleres ópticos tradicionales, incluida la evaluación de calidad de los componentes ópticos, el análisis del haz láser y la corrección del sistema óptico adaptativo. Posteriormente, sus escenarios de aplicación se han expandido gradualmente a múltiples campos de vanguardia, como imágenes biomédicas, posicionamiento de nanopartículas, caracterización de metasuperficie y medición del gradiente de temperatura.
El diseño mecánico compacto delFIS4sensor de frente de onda Permite que se integre fácilmente en varias plataformas de microscopía existentes, mientras que su excelente robustez garantiza que la alta precisión de medición interferométrica aún se pueda mantener incluso en entornos de vibración fuertes. Mientras tanto, el dispositivo admite la medición de exposición única, lo que puede capturar efectivamente procesos dinámicos de alta velocidad y es adecuado para las necesidades de observación de tiempo real. En la investigación biomédica, FIS4 ha logrado con éxito imágenes de alta resolución, de alta resolución y en tiempo real de varias células vivas, como COS-7, HT1080, RPE, CHO, células HEK y neuronas, proporcionando una herramienta importante para la investigación de la dinámica celular.
Además, elFIS4sensor de frente de onda También se usa ampliamente en la imagen de retraso de fase, que revela tejidos biológicos anisotrópicos y estructuras subcelulares, como fibras de colágeno y citosqueletos, a través de imágenes de alto contraste. Esta tecnología se extiende aún más a las imágenes de fase en bandas de rayos X, infrarrojos de onda media (MWIR) e infrarrojo de onda larga (LWIR), que muestran su amplio potencial en aplicaciones interdisciplinarias. Recuerde, FIS4 también se ha utilizado ampliamente en los estudios de caracterización de metasurfaces y materiales dos dimensionales, lo que demuestra completamente su valor práctico y prospectos en los fields modernos de los primeros y los materiales.
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