Sensor de frente de onda de infrarrojo FIS4 (versión refrigerada) 900-1200 nm
ElBoJiong FIS4 NIR-C Sensor de frente de onda 900-1200 nmestá diseñado para exigentes aplicaciones ópticas infrarrojas. Integra un sistema de enfriamiento de semiconductores de alta precisión en el sensor de frente de onda de infrarrojo cercano FIS4. Esto estabiliza activamente la temperatura del detector de núcleo por debajo del ambiente de -10 ° C, suprimiendo significativamente la corriente oscura y el ruido térmico, y logrando una estabilidad de medición ultra alta de 2NM RMS. Cubriendo la banda de infrarrojo cercano de 900–1200 nm, el sensor cuenta con una resolución espacial ultra alta 512 × 512 y un amplio rango dinámico de ≥260 μm, lo que permite un análisis claro de la distorsión frente a la onda y la distribución de fase de las láser de alta potencia, los dispositivos de metasurro y los semiconductores basados en silicon en la infrarrición infrarroja.
BoJiong FIIS4 NIR-C sensor de frente de onda900-1200 nm Introducción
ElBoJiong Sensor de frente de onda de infrarrojo cercano FIS4 (versión refrigerada) 900-1200 nmEs la nueva generación de equipos de inspección óptica de alta precisión de nuestra compañía, con una excelente resistencia a la vibración y capacidades de medición del frente de onda en tiempo real. El sensor de frente de onda FIS4 NIR-C se adhiere al estricto sistema de gestión de calidad ISO 9001 y está certificado por el Instituto de Metrología de China (NIM). Viene con una garantía de un año. El sensor de frente de onda FIS4 NIR-C utiliza un diseño óptico interferométrico interferométrico de ruta común y un algoritmo de reconstrucción de frente de onda en tiempo real para lograr una medición del frente de onda de alta precisión sin cambiar la fase, lo que lo hace adecuado para una variedad de investigaciones científicas exigentes y aplicaciones industriales.
BoJiong FIIS4 NIR-C Sensor de frente de onda 900-1200 nm Parámetro (especificación)
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Fuente de luz |
Láser continuo, led láser pulsado; Lámpara halógena y otros amplios Fuentes de luz de espectro |
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Rango de longitud de onda |
900 ~ 1200nm |
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Tamaño objetivo |
13.3mm ×13.3mm |
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Resolución espacial |
26μm |
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Resolución de salida de fase |
512×512 |
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Precisión absoluta |
15NMRMS |
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Resolución de fase |
≤2nmrms |
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Rango dinámico |
≥260μm |
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Frecuencia de muestreo |
30FPS |
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Velocidad de procesamiento en tiempo real |
5Hz(A plena resolución) |
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Tipo de interfaz |
Interfaz de red |
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Tamaño |
70mm ×71mm ×68.5mm |
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Peso |
Acerca de380g |
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Método de enfriamiento |
Refrigeración de semiconductores |
BoJiong FIIS4 NIR-C Sensor de frente de onda 900-1200 nm Característica y aplicación
Desde 2006, el equipo del profesor Yang Yongying en la Universidad de Zhejiang ha desarrollado con éxito el sensor de marco de la serie FIS4 de amplio espectro, basado en una estructura del interferómetro de ruta común y los algoritmos de reconstrucción del frente de onda en tiempo real. Después de 17 años de investigación continua, este producto ofrece las siguientes ventajas clave:
· Excelente resistencia a la vibración, no se requiere una plataforma de aislamiento de vibración;
· Sensibilidad a nivel nanométrico, con sensibilidad de medición de frente de onda que alcanza hasta 2 nm RMS;
· Diseño integrado de ruta óptica individual, innovativamente utilizando una estructura de ruta óptica única, no se necesita una ruta óptica de referencia;
· Operación fácil de usar;
· Compacto y portátil, fácil de transportar, adecuado para varias integraciones y aplicaciones en el sitio
ElSensor de frente de onda de infrarrojo cercano FIS4 (versión refrigerada) 900-1200 nmestá diseñado para una inspección y medición óptica de alta precisión, adecuada para inspección industrial, investigación científica y aplicaciones de defensa. Con una alta resolución de 512 × 512 (262,144) puntos de fase, el sensor logra la medición del frente de onda de alta precisión en un amplio rango espectral de 900-1200 nm y admite una visualización 3D en tiempo real a 10 cuadros por segundo con resolución total. Las aplicaciones típicas incluyen análisis de aberración del sistema óptico, calibración óptica, detección de distribución de celosía interna de material, caracterización de margen de onda de metasuperficie y metalenses, etc., que proporcionan herramientas confiables para la medición óptica de alta gama.
BoJiong FIIS4 NIR-C Sensor de frente de onda 900-1200 nm Solicitud
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Ejemplo de medición de aberración en sistemas ópticos
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Ejemplo de medir la distribución de la red interna de los materiales
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Ejemplo de medición de calibración del sistema óptico |
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Ejemplo de medición de marco de súper lente |
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BoJiong FIIS4 NIR-C Sensor de frente de onda 900-1200 nm Detalles
ElSensor de frente de onda de infrarrojo cercano FIS4 (versión refrigerada) 900-1200 nmUtiliza la tecnología patentada de difracción de cuatro ondas codificada aleatoria, aprovechando una fuente de luz de una sola ruta para lograr la interferencia propia del frente de onda medido, con una interferencia que ocurre en el plano de la imagen trasera. Esta tecnología reduce significativamente la dependencia de la coherencia de la fuente de luz, eliminando la necesidad de una palanca de cambios de fase y habilita la interferometría de alta precisión cuando se combina con un sistema de imágenes estándar. En comparación con los sensores tradicionales de Hartmann basados en matrices de microlenses, el sensor FIS4 NIR-C Wavefront supera a los interferómetros tradicionales de doble haz, ofreciendo ventajas de rendimiento significativas en múltiples áreas: más alta resolución de puntos de fase, adaptabilidad de la banda operativa más amplia y un rango dinámico más amplio, todos al tiempo que ofrece una rentabilidad superior, proporcionando una solución de bajo rendimiento para una amplia gama de una amplia gama de precisiones de inspección de opción de opción.
Fig.1. Principio de imágenes de fase basado en interferencia de corte lateral de cuatro ondas usando rejilla híbrida codificada aleatoriamente (REHG)
Fig. 2. Reconstrucción del frente de onda cuadrada del interferograma de corte lateral de cuatro ondas
ElSensor de frente de onda FIS4es una excelente herramienta en los campos de la investigación científica e inspección industrial. Combina inteligentemente muchas ventajas, como compacidad, alta estabilidad, excelente resolución temporal y buena compatibilidad del sistema, lo que la convierte en una herramienta central en los campos relacionados.
En términos de aplicaciones, su historial de desarrollo es testigo de su fuerte adaptabilidad y escalabilidad. Inicialmente, elSensor de frente de onda FIS4se utilizó principalmente para tareas de inspección básica en talleres ópticos. Por ejemplo, en el análisis de calidad de los componentes ópticos, puede evaluar con precisión si la calidad del componente cumple con los estándares, aprovechando sus capacidades de detección de alta precisión. En el diagnóstico de haz láser, puede analizar meticulosamente varios parámetros del haz láser, proporcionando una base confiable para la posterior optimización y ajuste. Además, en el campo del control de óptica adaptativa, también juega un papel fundamental, facilitando un control óptico preciso.
Hoy en día, el alcance de la aplicación delSensor de frente de onda FIS4ha sido ampliamente extendido. En el campo de las imágenes de microscopía biológica, permite a los investigadores observar las microestructuras biológicas más claramente. En el seguimiento de nanopartículas, puede rastrear con precisión la trayectoria de movimiento y otra información clave de las nanopartículas. En el trabajo de medición de la metasureza, proporciona datos de medición precisos, que facilitan la investigación en profundidad. En varios campos, como la caracterización termodinámica, también demuestra un valor indispensable.
Desde la perspectiva de las características estructurales, elSensor de frente de onda FIS4Cuenta con un diseño compacto y exquisito, lo que le permite integrarse fácilmente en los sistemas de microscopio existentes y ampliar significativamente sus escenarios de aplicación. Además, posee excelentes capacidades antivibraciones, asegurando la precisión de la medición incluso en entornos externos duros. Esto garantiza que los resultados de la detección no se ven afectados por la interferencia externa, proporcionando estabilidad y confiabilidad.
Vale la pena mencionar que la función de imagen de exposición única delSensor de frente de onda FIS4es muy ventajoso, especialmente para grabar procesos dinámicos rápidos. En el campo de la investigación biomédica, con esta función, ha logrado con éxito la observación en tiempo real libre de etiquetas de varias células vivas como COS-7, HT1080, RPE, Cho, HEK y neuronas, proporcionando una poderosa herramienta de observación para la investigación biomédica.
Además, este sensor admite imágenes de retraso de fase de alto contraste, lo que permite la clara visualización de estructuras anisotrópicas, como fibras de colágeno y citosqueletos, proporcionando una base de imagen clara para una investigación en profundidad sobre estructuras biológicas relacionadas. Además, su rango de aplicaciones se ha ampliado aún más a las imágenes de fase en las bandas de rayos X, infrarrojo medio e infrarrojo largo, lo que demuestra un valor significativo en el análisis de metasurfaces y materiales bidimensionales, e impulsando efectivamente el progreso de la investigación en estos campos fronterizos.
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