Bojiong (Shanghai) Tecnología de maquinaria de precisión Co., Ltd
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Sensor de frente de onda FIS4 NIR-C
  • Sensor de frente de onda FIS4 NIR-CSensor de frente de onda FIS4 NIR-C

Sensor de frente de onda FIS4 NIR-C

La optoelectrónica de BoJiong, impulsada por una dedicación inquebrantable a la innovación en la tecnología de sensores de frente de onda FIS4 NIR-C, se ha establecido firmemente como una entidad pionera dentro de la industria. Nuestros sensores de vanguardia están meticulosamente diseñados para lograr una precisión incomparable en la medición del rendimiento óptico, que atiende a una amplia gama de aplicaciones en diversos sectores, incluida la fabricación óptica, la investigación aeroespacial, biomédica y la exploración de energía.

Nuestros sensores de frente de onda FIS4 NIR-C están diseñados de manera experta para cumplir rigurosamente los estándares exigentes de análisis óptico de alta precisión, proporcionando a nuestra clientela un instrumento confiable para garantizar el calibre superior de sus productos y metodologías operativas.  Al integrar perfectamente estos sensores en sus marcos operativos, nuestros clientes pueden anticipar con confianza un avance significativo tanto en la excelencia del producto como en la eficiencia de fabricación.


 

La sobresaliente alta resolución y una amplia cobertura de longitud de onda del sensor de frente de onda Bojiong Fis4 NIR-C lo posicionan como una herramienta incomparable tanto para la investigación científica como para la implementación industrial, particularmente en escenarios que requieren medición meticulosa y análisis estricto.  Este sensor sofisticado se destaca en la realización de mediciones de frente de onda de alta precisión que abarcan el rango de longitud de onda de 900 nm a 1200 nm, con una notable resolución de 512x512 píxeles, con un total de 262,144 puntos de fase distintos.  Su diseño integra cuidadosamente la resistencia a la vibración inherente y garantiza una estabilidad robusta en entornos prácticos, lo que facilita las mediciones de alta fidelidad sin requerir sistemas de control ambiental engorrosos.  Esta resiliencia intrínseca optimiza notablemente los flujos de trabajo operativos y eleva significativamente el rendimiento general de la medición.

 

Especificación:

 

Tipo de fuente de luz

Láser continuo, láser de pulso, LED, lámpara de halógeno y otras fuentes de luz de banda ancha

Rango de longitud de onda

900 nm ~ 1200 nm 

Tamaño objetivo

13.3 mm × 13.3 mm

Resolución espacial

26 m m

Resolución de salida de fase

512 × 512

Precisión absoluta

15nmrms

Resolución de fase

≤ 2nmrms

Rango dinámico

≥260 μ m

Tasa de muestreo

30 fps

Velocidad de procesamiento en tiempo real

5Hz (en resolución completa)

Tipo de interfaz

CORTAR

Dimensión

70 mm × 71 mm × 68.5 mm

Peso

aproximadamente 380 g

Método de refrigeración

enfriamiento de semiconductores

 

 

Característica

 

 

 

◆ 100% desarrollado a nivel nacional

◆ Ligera de una sola interferencia de la luz, no se requiere luz de referencia

◆ Gran rango dinámico de hasta 260 μ m

◆ Spectrum amplio 900 nm ~ 1200 nm banda

◆ Resolución de alta fase de 2 nm rms

◆ Resistencia a la vibración extremadamente fuerte, no es necesidad de aislamiento de vibración óptica

◆ Con diseño de supresión de franjas por interferencia láser

◆ Soporte de vigas colimadas y grandes vigas convergentes de NA

◆ Usando la refrigeración de semiconductores

 

 

 Solicitud

 

Este sensor de frente de onda Bojiong FIS4 NIR-C utilizado en la medición de aberración del sistema óptico, calibración del sistema óptico, medición de distribución de red interna de material, hiperes superficial, medición del frente de onda de hiperlenses

 

Ejemplo de medición de aberración del sistema óptico

Medición de muestra de la distribución de red dentro de un material

Ejemplos de medición de calibración del sistema óptico

Ejemplo de medición del frente de onda de metasuperficie

 

Ejemplo de medición del frente de onda de Hyperlens

 

 

 

 

 

 

Detalles de BoJiong

 

BoJiong FIS4 NIR-C (Cooling de semiconductores) Sensor de frente de onda fue desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang, Singapur. Tiene una resolución ultra alta de 512 × 512 (262144) puntos de fase, y puede lograr una medición de frente de onda de alta precisión en la banda 900NM1200NM. Se puede utilizar para la medición de la aberración del sistema óptico, la calibración del sistema óptico, la medición de la distribución de la red interna material, la metasuperficie, la medición del frente de onda de las superlenses, etc.

FIS4 NIR-C combina la tecnología patentada de difracción de cuatro ondas codificada con una cámara infrarroja e interfiere en la posición del plano de imagen trasera. Tiene bajos requisitos para la coherencia de la fuente de luz y no requiere un cambio de fase. Los sistemas de imágenes ordinarios pueden lograr la medición interferométrica. Tiene resistencia a la vibración ultra alta y estabilidad ultra alta, y puede lograr la medición de precisión de nivel NM sin aislamiento de vibración.

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