Bojiong (Shanghai) Tecnología de maquinaria de precisión Co., Ltd
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Sensor de frente de onda fis4 nir
  • Sensor de frente de onda fis4 nirSensor de frente de onda fis4 nir

Sensor de frente de onda fis4 nir

Bojiong Optoelectronics, impulsado por una dedicación inquebrantable a la innovación en la tecnología de sensores de frente de onda FIS4 NIR, ha solidificado su posición como una fuerza pionera en la industria. Nuestros sensores de vanguardia están meticulosamente diseñados para ofrecer una precisión incomparable en la medición del rendimiento óptico, sirviendo a un espectro diverso de aplicaciones en sectores como la fabricación óptica, la investigación aeroespacial, biomédica y la exploración de energía.

Nuestros sensores de frente de onda FIS4 NIR están diseñados por expertos para satisfacer las exigentes demandas de análisis óptico de alta precisión, proporcionando a nuestra clientela un instrumento confiable para garantizar la calidad superior de sus productos y procesos operativos.  Al integrar estos sensores en sus flujos de trabajo, nuestros clientes pueden anticipar una mejora sustancial tanto en la excelencia del producto como en la eficiencia de fabricación.

El rango excepcional de alta resolución y longitud de onda extensa del sensor de frente de onda BoJiong FIS4 NIR lo convierte en un instrumento óptimo tanto para la investigación científica como para la implementación industrial, particularmente en contextos que exigen medición meticulosa y análisis riguroso.  Este sensor es experto en realizar mediciones de frente de onda de alta precisión dentro del espectro de longitud de onda de 900 nm a 1200 nm, con una resolución de 512x512 píxeles, lo que totaliza un impresionante 262,144 puntos de fase.  Su diseño incorpora cuidadosamente la robustez contra la vibración y garantiza la estabilidad de las aplicaciones del mundo real, lo que permite mediciones de alta fidelidad sin necesitar mecanismos de control ambiental elaborados.  Esta resiliencia inherente optimiza significativamente los procedimientos operativos y mejora notablemente la eficiencia de la medición general.

 

Especificación:

 

Tipo de fuente de luz

Láser continuo, láser de pulso, LED, lámpara de halógeno y otras fuentes de luz de banda ancha

Rango de longitud de onda

900 nm ~ 1200 nm 

Tamaño objetivo

13.3 mm × 13.3 mm

Resolución espacial

26 mm

Resolución de salida de fase

512 × 512

Precisión absoluta

20nmrms

Resolución de fase

≤2nmrms

Rango dinámico

≥260 μm

Tasa de muestreo

40 fps

Velocidad de procesamiento en tiempo real

5Hz (en resolución completa)

Tipo de interfaz

USB3.0

Dimensión

70 mm × 46.5 mm × 68.5 mm

Peso

Acerca de 240g

Método de refrigeración

ninguno

 

 

Característica

 

 

 

◆ Spectrum amplio 900 nm ~ 1200 nm banda

◆ Ligera de una sola interferencia de la luz, no se requiere luz de referencia

◆ 100% desarrollado a nivel nacional

◆ Resolución de alta fase de 2 nm rms

◆ Gran rango dinámico de hasta 260 μm

◆ Resistencia a la vibración extremadamente fuerte, no es necesidad de aislamiento de vibración óptica

◆ Con diseño de supresión de franjas por interferencia láser

◆ Soporte de vigas colimadas y grandes vigas convergentes de NA

 

 

 Solicitud

 

Este sensor de frente de onda BoJiong FIS4 NIR utilizado en la medición de la aberración del sistema óptico, calibración del sistema óptico, medición de distribución de red interna de material, hiperesuperficie, medición del frente de onda de hiperlenses

 

 

Ejemplo de medición de aberración del sistema óptico

Medición de muestra de la distribución de red dentro de un material

Ejemplos de medición de calibración del sistema óptico

Ejemplo de medición del frente de onda de metasuperficie

 

Ejemplo de medición del frente de onda de Hyperlens

 

 

 

 

 

Detalles

 

BoJiong Fis4 Nir Wavefront Sensor es desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang, Singapur. FIS4 NIR combina tecnología patentada de difracción de cuatro ondas codificada aleatoria con una cámara infrarroja para interferir en la posición del plano de la imagen trasera. Tiene bajos requisitos para la coherencia de la fuente de luz y no requiere un cambio de fase. Los sistemas de imágenes ordinarios pueden lograr la medición interferométrica. Tiene resistencia a la vibración ultra alta y estabilidad ultra alta, y puede lograr la medición de precisión de nivel NM sin aislamiento de vibración. La resolución ultra alta de 512 × 512 (262144) puntos de fase alcanza la medición de la onda de alta precisión en la banda de 900 nm a 1200 nm, que se puede utilizar para la medición de aberración del sistema óptico, etc., etc. Calibración del sistema óptico, medición de distribución de reticulación interna del material, metasuria, superlensas de onda superlens, etc.




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