Sensor interferómetro de cuatro ondas FIS4es desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang, Singapur. Tiene tecnología de patente nacional, combina difracción e interferencia, realiza interferencias de corte lateral de cuatro ondas de ruta común, tiene súper sensibilidad de detección y resistencia a la vibración, y puede lograr mediciones de interferómetro dinámico de alta velocidad en tiempo real sin aislamiento de vibración; la velocidad de fotogramas de visualización de medición en tiempo real alcanza más de 10 fotogramas. Al mismo tiempo, el sensor FIS4 tiene una resolución de fase ultraalta de 512 × 512 (260.000 puntos de fase), la banda de medición cubre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilidad de medición alcanza los 2 nm y la repetibilidad de la medición es mejor que 1/1000 λ ( RMS). Se puede utilizar para análisis de calidad del rayo láser, detección de campo de flujo de plasma, medición en tiempo real de distribución de campo de flujo de alta velocidad, evaluación de calidad de imagen de sistema óptico, medición de contorno microscópico e imágenes de fase cuantitativa de células biológicas, etc.
Sensor de interferencias FIS4 simpletrayectoria óptica de interferencia del haz
El principio de funcionamiento del sensor de interferencia de cuatro ondas es que el frente de onda a detectar se difracta mediante una rejilla híbrida codificada aleatoriamente y se generan cuatro luces difractadas en dos direcciones ortogonales. Estas cuatro luces difractadas interfieren en la superficie de la imagen y se pueden obtener cuatro franjas de interferencia de corte lateral del frente de onda.
Ventajas del sensor de interferencia de cuatro ondas: la interferencia de trayectoria óptica única tiene una resistencia a la vibración súper fuerte, no se requiere luz de referencia, diseño simple, no se requiere ningún dispositivo de interferencia especial, ajuste rápido y fácil, es posible obtener imágenes en tiempo real, sin cambio de fase Se requiere un proceso y es particularmente adecuado para la detección de alta precisión en entornos de fábrica.
