Analizador de frente de onda de ultra alta resolución

El analizador de frente de onda de ultra alta resolución cuenta con una excelente resistencia a las vibraciones, lo que garantiza mediciones confiables incluso sin el uso de una plataforma de aislamiento de vibraciones. Logra una precisión de nivel nanométrico en los datos. Destaca en el análisis de microperfiles de superficie, con una resolución súper alta de 512×512, lo que equivale a 262.144 puntos de fase, lo que garantiza una cobertura completa para un análisis detallado. Su amplio rango de respuesta espectral de 400 a 1100 nanómetros lo hace adecuado para diversas fuentes de luz. Además, ofrece visualización de resultados en 3D de resolución completa en tiempo real a una velocidad de 10 fotogramas por segundo, lo que proporciona una vista dinámica e inmediata de los datos del frente de onda. Esto lo convierte en una solución integral para las necesidades de medición y detección de frente de onda.

Especificación del artículo

Característica del analizador de frente de onda de ultra alta resolución BOJIONG

◆Resolución ultraalta de 512×512 (262144) puntos de fase

◆Banda de amplio espectro de 400 nm ~ 1100 nm

◆Autointerferencia de luz de un solo canal, no se requiere luz de referencia

◆ Resolución de fase alta de 2 nm RMS

◆Al igual que las imágenes, construcción de ruta óptica fácil y rápida

◆Resistencia a vibraciones ultraalta, sin necesidad de aislamiento óptico de vibraciones

◆ Admite haces colimados y grandes haces convergentes NA

Aplicación del analizador de frente de onda de ultra alta resolución BOJIONG

Este analizador de frente de onda de ultra alta resolución BOJIONG se utiliza en detección de frente de onda de rayo láser, óptica adaptativa, medición de la forma de la superficie, calibración del sistema óptico, detección de ventanas ópticas, plano óptico, medición de la forma de la superficie esférica y detección de rugosidad de la superficie.

Detalles del analizador de frente de onda de ultra alta resolución BOJIONG

BOJIONG Analizador de frente de onda de ultra alta resolución desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang de Singapur, con tecnología patentada nacional, combina difracción e interferencia para lograr una interferencia de corte transversal común de cuatro ondas, con una sensibilidad de detección superior y anti- Rendimiento de vibración y puede realizar interferometría dinámica en tiempo real y de alta velocidad sin aislamiento de vibración. La medición en tiempo real muestra una velocidad de cuadros de más de 10 cuadros. Al mismo tiempo, el sensor FIS4 tiene una resolución de fase ultraalta de 512 × 512 (260.000 puntos de fase), la banda de medición cubre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilidad de medición alcanza los 2 nm y la repetibilidad de la medición es mejor que 1/1000 λ ( RMS). Se puede utilizar para análisis de la calidad del rayo láser, detección del campo de flujo de plasma, medición en tiempo real de la distribución del campo de flujo de alta velocidad, evaluación de la calidad de la imagen del sistema óptico, medición del perfil microscópico e imágenes de fase cuantitativa de células biológicas.