El analizador de margen de onda de ultra alta resolución cuenta con una excelente resistencia a la vibración, asegurando mediciones confiables incluso sin el uso de una plataforma de aislamiento de vibración. Logra la precisión a nivel nanométrico en los datos. Excelente en el análisis de micro-perfiles de superficie, con una resolución súper alta de 512 × 512, que equivale a 262,144 puntos de fase, asegurando una cobertura integral para un análisis detallado. Su amplia respuesta espectral varía de 400 a 1100 nanómetros lo hace adecuado para varias fuentes de luz. Además, ofrece una visualización de resultados de resolución completa en tiempo real a una velocidad de 10 cuadros por segundo, proporcionando una vista dinámica e inmediata de los datos de frente de onda. Esto lo convierte en una solución integral para las necesidades de detección y medición del frente de onda.
Tipo de fuente de luz |
Láser continuo, láser de pulso, LED, lámpara de halógeno y otras fuentes de luz de banda ancha |
Rango de longitud de onda |
400 nm ~ 900 nm |
Tamaño objetivo |
13.3 mm × 13.3 mm |
Resolución espacial |
26 m m |
Resolución de salida de fase |
512 × 512 |
Precisión absoluta |
15nmrms |
Resolución de fase |
≤ 2nmrms |
Rango dinámico |
≥160 μ m |
Tasa de muestreo |
40 fps |
Velocidad de procesamiento en tiempo real |
5Hz (en resolución completa) |
Tipo de interfaz |
USB3.0 |
Dimensión |
70 mm × 46.5 mm × 68.5 mm |
Peso |
Acerca de 240g |
Método de refrigeración |
ninguno |
◆ Resolución ultra alta de 512 × 512 (262144) Puntos de fase
◆ Banda amplia de 400 nm ~ 1100 nm
◆ Luz de un solo canal auto-interferencia, no se requiere luz de referencia
◆ Resolución de alta fase de 2 nm rms
◆ Al igual que las imágenes, la construcción de ruta óptica fácil y rápida
◆ Resistencia a la vibración ultra alta, sin necesidad de aislamiento de vibración óptica
◆ Admite vigas colimadas y grandes vigas convergentes de NA
Este analizador de frente de onda de resolución ultra alta se utiliza en la detección del frente de onda del haz láser, la óptica adaptativa, la medición de la forma de la superficie, la calibración del sistema óptico, la detección de ventanas ópticas, el plano óptico, la medición de la forma de la superficie esférica, la detección de rugosidad de la superficie.
Detección de marco de haz láser |
Medición de forma de superficie plana óptica |
Medición de forma de superficie esférica óptica |
Medición de aberración de sistemas ópticos |
Detección óptica de la ventana |
Medición de la distribución de red dentro del material |
Óptica adaptativa: respuesta de detección de frente de onda en modo Zernike |
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Analizador de frente de onda de alta resolución de BoJiong desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang de Singapur, con tecnología patentada nacional, combina difracción e interferencia para lograr una interferencia transversal de corte transversal común de cuatro ondas, con la sensibilidad de detección superior y el rendimiento antivibraciones antivibraciones, y puede realizar un aislamiento de interfermatación de interfermación de tiempo real y de alta separación sin vibración. La medición en tiempo real muestra una velocidad de cuadro de más de 10 cuadros. Al mismo tiempo, el sensor FIS4 tiene una resolución de fase ultra alta de 512 × 512 (260,000 puntos de fase), la banda de medición cubre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilidad de medición alcanza 2 nm y la repetibilidad de medición es mejor que 1/1000λ (rms). Se puede utilizar para el análisis de calidad del haz láser, detección de campo de flujo de plasma, medición en tiempo real de la distribución de campo de flujo de alta velocidad, evaluación de calidad de imagen del sistema óptico, medición del perfil microscópico y imágenes de fase cuantitativa de células biológicas.
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