Analizador de frente de onda de infrarrojo cercano

El analizador de frente de onda de infrarrojo cercano que combina la tecnología patentada de difracción de cuatro ondas codificada aleatoriamente con una cámara infrarroja permite que la medición de interferencias se realice mediante sistemas de imágenes comunes. Cuenta con un nivel excepcionalmente alto de estabilidad y resistencia a las vibraciones, lo que permite una medición de precisión a nivel nanométrico sin necesidad de aislamiento de vibraciones. Es adecuado para medir la distribución de la red interna de materiales, así como para mediciones de frente de onda de metasuperficies e hiperlentes.

Especificación del artículo:

Característica del analizador de frente de onda de infrarrojo cercano BOJIONG

◆Banda de amplio espectro de 900 nm ~ 1200 nm

◆ Resolución de fase alta de 2 nm RMS

◆Resolución ultraalta de 512×512 (262144) puntos de fase

◆Autointerferencia de luz de un solo canal, no se requiere luz de referencia

◆Gran rango dinámico de hasta 270μm

◆Rendimiento antivibración extremadamente fuerte, sin necesidad de aislamiento óptico de vibración

◆Al igual que las imágenes, construcción de ruta óptica fácil y rápida

◆ Admite haces colimados y grandes haces convergentes NA

Aplicación del analizador de frente de onda de infrarrojo cercano BOJIONG

Este analizador de frente de onda de infrarrojo cercano BOJIONG se utiliza en la medición de aberración del sistema óptico, calibración del sistema óptico, medición de la distribución de la red interna del material, medición del frente de onda de hipersuperficie y hiperlente.

Detalles del analizador de frente de onda de infrarrojo cercano BOJIONG

BOJIONG Analizador de frente de onda de infrarrojo cercano desarrollado por un equipo de profesores de la Universidad de Zhejiang y la Universidad Tecnológica de Nanyang de Singapur, con tecnología patentada nacional, combina difracción e interferencia para lograr una interferencia de corte transversal común de cuatro ondas, con una sensibilidad de detección superior y anti- Rendimiento de vibración y puede realizar interferometría dinámica en tiempo real y de alta velocidad sin aislamiento de vibración. La medición en tiempo real muestra una velocidad de cuadros de más de 10 cuadros. Al mismo tiempo, el sensor FIS4 tiene una resolución de fase ultraalta de 512 × 512 (260.000 puntos de fase), la banda de medición cubre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilidad de medición alcanza los 2 nm y la repetibilidad de la medición es mejor que 1/1000 λ ( RMS). Se puede utilizar para análisis de la calidad del rayo láser, detección del campo de flujo de plasma, medición en tiempo real de la distribución del campo de flujo de alta velocidad, evaluación de la calidad de la imagen del sistema óptico, medición del perfil microscópico e imágenes de fase cuantitativa de células biológicas.